e6dd2689c0e7f0df96d1e05cf2c5e9ae.jpg

半导体产业


电动车、车用电子与感测器、5G、穿戴装置、AI、云端储存运算..等新技术发展带动下,全球先进制程半导体的需求持续增加,半导体制程技术演进,也使得元件尺寸越做越小,元件也开始出现可靠度[翘曲、脱层、裂痕]与制程上的问题,对于半导体的可靠度测试、故障分析及寿命推估,的要求与严苛也有所提升,需要进行气候环境模拟试验[结露、呼吸、温湿度组合、湿冷冻、温度循环…等],相关元件与组件的寿命时间拉长,需要缩短试验时间,因此必须要进行加速寿命与强迫吸湿试验[PCT、HAST、uHAST],将相关半导体可靠度试验会参考与引用的测试规范整理于此专区。

技术文章与规范


JEDEC半导体可靠度测试与规范  AEC-Q200试验条件

相关试验设备


恒温恒湿试验箱

模拟产品在气候环境温湿组合条件下(高低温操作&储存、温度循环、高温高湿、低温低湿、结露试验…等),检测产品本身的调节能力与特性是否改变。※需符合国际性规范之要求(IEC、JIS、GB、MIL…)以达到国际间量测程序横线野蛮整齐的一致性(含测试步骤、条件、方法)避免认知不同,并缩小测量不确定的因素范围发生。

冷热冲击试验箱

冷热冲击机可用来测试材料结构或复合材料,在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,借以在最短时间内试验其因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害.适用的对象包括金属,塑料,橡胶,电子….等材料,可作为其产品改进的依据或参考。

高度加速寿命试验箱

加速寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件,和机械零件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。